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更新時間：2025-12-19 
瀏覽次數：28400,000Lux精密"光篩"：山田光學YP系列如何重塑液晶面板質檢標準在超高清顯示技術迭代至8K、柔性OLED成為主流的今天，一塊65英寸液晶面板上分布著超過2400萬個像素點，任何微米級的異物、劃痕或鍍層不均都可能造成整片報廢。面對這層"比頭發絲細100倍"的檢測挑戰，山田光學YP-150I/YP-250I高亮度鹵素光源以400,000Lux照度和0.2μm級缺陷識別能力，成為液晶面板廠商破解質檢困局的優良選擇。技術規格：專為面板檢測而生YP-150I與YP-250I并非簡單功率差異，而是針對產線不同環節的戰略性布局：
| 型號 | 照射直徑 | 工作距離 | 典型應用場景 |
| ----------- | ----- | ----- | ---------------------- |
| **YP-150I** | φ30mm | 140mm | 小尺寸面板、精密點位檢測、邊緣崩缺檢查 |
| **YP-250I** | φ60mm | 220mm | 大尺寸基板掃描、整面均勻性檢測、多片同時檢測 |
兩款設備均采用OSRAM高色溫鹵素燈（YP-150I：150W，YP-250I：250W），色溫穩定在3400K，顯色指數接近自然光，配合冷鏡技術將熱輻射降至傳統鋁鏡的1/3，這對于熱敏感的OLED柔性基板至關重要
核心應用場景：貫穿面板制造全鏈條1. TFT-LCD與OLED面板缺陷排查在面板成盒（Cell）工藝后，YP-250I的60mm寬光斑可快速掃描整片玻璃基板，識別彩色濾光片（CF）上的收縮紋、ITO鍍膜的微裂紋以及偏光片貼合后的氣泡與偏移。其兩段式照度切換功能尤為關鍵——高照度模式（400,000Lux）用于捕捉0.2μm級微劃痕，低照度模式則用于評估整體亮度均勻性（Mura），一鍵切換無需調整檢測距離，效率提升30%以上。2. ITO鍍層與金屬走線高反材料檢測液晶面板的ITO鍍層和金屬柵有高反射特性，普通LED光源易產生眩光導致誤判。YP系列的高對比度照明能穿透反射干擾，清晰識別鍍層針孔、厚度不均及光刻殘留。實測數據顯示，采用YP-250I后，某頭部面板廠的ITO缺陷漏檢率降低30%，尤其在高反光AMOLED產線中表現突出。3. 偏光片與貼合質量檢查偏光片作為多層復合材料，表面極易產生細微劃傷。YP-150I的短距高照度（140mm） 設計可增強邊緣崩缺和應力裂紋的顯影效果。在觸摸屏制造中，設備通過優化透光區與遮光區的缺陷對比度，顯著提升貼合良率。對于曲面屏和折疊屏，冷鏡技術避免因局部過熱導致柔性基板變形。4. 玻璃基板表面瑕疵檢測在玻璃減薄工藝后，YP-250I能識別僅為頭發絲直徑1/50的拋光痕、霧狀不均及顆粒污染。其強制風冷設計（可選螺旋槳風扇或管道風扇）適配不同潔凈度車間，確保7×24小時連續產線穩定運行
投資回報：從成本中心到價值創造某面板廠商引入YP-250I替代傳統汞燈后，年節約燈泡更換費用超12萬元（鹵素燈壽命50小時 vs 汞燈200小時，但單價僅為1/10）。更關鍵的是，因漏檢導致的客戶退貨率下降45%，挽回品牌信譽損失。在環保層面，鹵素燈不含汞，廢棄處理合規成本更低，符合歐盟RoHS及國內環保法規。選型建議：精準匹配制程需求6代線以下/中小尺寸：優選YP-150I，φ30mm光斑精準匹配基板尺寸，避免光能浪費8.5代線/大尺寸TV面板：YP-250I的φ60mm光斑支持并行檢測多片Cell，效率更高柔性OLED/可折疊屏：必須配置冷鏡版本，并優先選擇管道風扇型以維持Class 100潔凈度研發實驗室：推薦YP-150I，便攜設計（燈頭僅1.7kg）支持快速轉場結語：從"看見"到"看清"的跨越在液晶面板行業從"規模擴張"轉向"質量精耕"的當下，山田光學YP系列不僅是一臺光源，更是工藝優化的數據入口。其400,000Lux照度與0.2μm級檢出能力，讓每一片面板的缺陷數據可量化、可追溯，為AI質檢模型訓練提供高質量樣本。當顯示技術邁向Micro-LED與量子點時代，YP系列已證明：真正的質檢升級，始于對光的良好掌控。
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